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  • 京都玉崎光學(xué)板光源YAMADA粒子光源YP-250ID裝置現(xiàn)貨

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 光學(xué)板光源YAMADA粒子光源YP-250ID裝置現(xiàn)貨

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  • 小王子YP -150I/YP -250ID雙光源裝置YAMADA山田

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-150I/YP-250ID雙光源裝置YAMADA山田

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  • 小王子YAMADA高亮度熒光光源YP-150ID · YP-250ID

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA高亮度熒光光源YP-150ID · YP-250ID

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  • 小王子YAMADA山田高亮度鐵光源裝置YP-150ID現(xiàn)貨

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田高亮度鐵光源裝置YP-150ID現(xiàn)貨

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  • 京都玉崎YAMADA山田高亮度鐵光源裝置YP-150ID現(xiàn)貨

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田高亮度鐵光源裝置YP-150ID現(xiàn)貨

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  • 京都玉崎YP-150ID/YP-250ID現(xiàn)貨YAMADA山田粒子光源

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-150ID/YP-250ID現(xiàn)貨YAMADA山田粒子光源

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  • 京都玉崎YP-250ID高亮度YAMADA山田粒子光源裝置現(xiàn)貨

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-250ID高亮度YAMADA山田粒子光源裝置現(xiàn)貨

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  • 小王子YP-150ID YAMADA山田光學(xué)高亮度電子鏡200V

    可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-150ID YAMADA山田光學(xué)高亮度電子鏡200V

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