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產(chǎn)品展示/ Product display
垃圾坑點火監(jiān)控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C對對象物(※1)照射高亮度的光的話會發(fā)生振打現(xiàn)象,表面的傷和垃圾,內(nèi)部的異物和氣泡用目視能容易地確認(rèn)。※1:半導(dǎo)體晶片、掩模玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等!
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垃圾坑點火監(jiān)控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C
垃圾坑點火監(jiān)控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C
點火監(jiān)視裝置(TAM系列)、超高亮度照明裝置(UIH-1、UIH-2、UIH-3)、半導(dǎo)體晶片截面形狀測量裝置(WEMS、VSSW)等測量裝置制造現(xiàn)場。
UIH-1C型規(guī)格
*1 為了保護燈泡,即使在主電源開關(guān)關(guān)閉的情況下,仍可通過風(fēng)扇維持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 以下的功能。
UIH-2D型規(guī)格
C
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